发明名称 |
晶片封装体及其制造方法 |
摘要 |
本发明提供一种晶片封装体及其制造方法,该晶片封装体包括:一基底,其具有一第一表面及与其相对的一第二表面;一介电层,设置于基底的第一表面上且包括一导电垫结构;一第一开口,贯穿基底,并露出导电垫结构的一表面;一第二开口,与第一开口连通,且贯穿导电垫结构;以及一重布线层,顺应性设置于第一开口的一侧壁及导电垫结构的表面上,并填入第二开口。本发明不仅能够增加重布线层与导电垫结构的接触面积,还能够增加重布线层与导电垫结构之间的结构强度,因此能够提升晶片封装体的可靠度或品质。 |
申请公布号 |
CN105720040A |
申请公布日期 |
2016.06.29 |
申请号 |
CN201510809457.1 |
申请日期 |
2015.11.20 |
申请人 |
精材科技股份有限公司 |
发明人 |
刘沧宇;李柏汉;简玮铭 |
分类号 |
H01L23/528(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/528(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇 |
主权项 |
一种晶片封装体,其特征在于,包括:一基底,具有一第一表面及与该第一表面相对的一第二表面;一介电层,设置于该基底的该第一表面上,其中该介电层内包括一导电垫结构;一第一开口,贯穿该基底,并露出该导电垫结构的一表面;一第二开口,与该第一开口连通,且贯穿该导电垫结构;以及一重布线层,顺应性设置于该第一开口的一侧壁及该导电垫结构的该表面上,并填入该第二开口。 |
地址 |
中国台湾桃园市中坜区中坜工业区吉林路23号9楼 |