发明名称 晶片封装体及其制造方法
摘要 本发明提供一种晶片封装体及其制造方法,该晶片封装体包括:一基底,其具有一第一表面及与其相对的一第二表面;一介电层,设置于基底的第一表面上且包括一导电垫结构;一第一开口,贯穿基底,并露出导电垫结构的一表面;一第二开口,与第一开口连通,且贯穿导电垫结构;以及一重布线层,顺应性设置于第一开口的一侧壁及导电垫结构的表面上,并填入第二开口。本发明不仅能够增加重布线层与导电垫结构的接触面积,还能够增加重布线层与导电垫结构之间的结构强度,因此能够提升晶片封装体的可靠度或品质。
申请公布号 CN105720040A 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201510809457.1 申请日期 2015.11.20
申请人 精材科技股份有限公司 发明人 刘沧宇;李柏汉;简玮铭
分类号 H01L23/528(2006.01)I;H01L21/768(2006.01)I 主分类号 H01L23/528(2006.01)I
代理机构 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 代理人 刘新宇
主权项 一种晶片封装体,其特征在于,包括:一基底,具有一第一表面及与该第一表面相对的一第二表面;一介电层,设置于该基底的该第一表面上,其中该介电层内包括一导电垫结构;一第一开口,贯穿该基底,并露出该导电垫结构的一表面;一第二开口,与该第一开口连通,且贯穿该导电垫结构;以及一重布线层,顺应性设置于该第一开口的一侧壁及该导电垫结构的该表面上,并填入该第二开口。
地址 中国台湾桃园市中坜区中坜工业区吉林路23号9楼