| 发明名称 | 具有隔层的有机x射线检测器 | ||
| 摘要 | 公开了一种有机x射线检测器和制作有机x射线检测器的方法。x射线检测器包括设置在基底上的TFT阵列、设置在TFT阵列上的有机光电二极管层、设置在光电二极管层上的隔层，以及设置在隔层上的闪烁体层，使得隔层包括至少一种无机材料。 | ||
| 申请公布号 | CN105723245A | 申请公布日期 | 2016.06.29 |
| 申请号 | CN201480063747.X | 申请日期 | 2014.09.08 |
| 申请人 | 通用电气公司 | 发明人 | K.H.安;A.J.库图尔;G.帕萨萨拉蒂;赵日安;J.J.刘 |
| 分类号 | G01T1/20(2006.01)I;H01L27/30(2006.01)I | 主分类号 | G01T1/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人 | 刘林华;谭祐祥 |
| 主权项 | 一种有机x射线检测器，包括：设置在基底上的TFT阵列；设置在所述TFT阵列上的有机光电二极管层；设置在所述光电二极管层上的隔层；以及设置在所述隔层上的闪烁体层，其中所述隔层包括至少一种无机材料。 | ||
| 地址 | 美国纽约州 | ||