发明名称 磁粉检测测深孔型试块
摘要 磁粉检测测深孔型试块,该试块呈长方体状,试块横截面呈正方形,在试块的水平对称轴和垂直对称轴上分别设有数个平底孔,平底孔相对于试块垂直设置;数个平底孔的位置相对于试块的中心点中心对称,沿试块的水平对称轴和垂直对称轴,从试块中心点到试块外侧的方向,平底孔的深度依次增加或者依次减小,相邻平底孔的深度差为0.8~1.2mm,平底孔的深度与试块高度之差0.9~1.1mm。在使用的时候,对试块未开平底孔的表面进行检测,根据检测到的缺陷所处最深位置确定该方法的检测深度。该试块解决了磁粉检测中常规试块无法确定缺陷深度的问题,尤其在TOFD检测中通过该试块可以确定磁粉检测的深度范围,确保TOFD检测的可靠性和有效性,降低质量事故风险。
申请公布号 CN205353001U 申请公布日期 2016.06.29
申请号 CN201620079415.7 申请日期 2016.01.27
申请人 薛永盛 发明人 薛永盛;房伟峰;康华魁;李玉军;薛富林;赵春娟
分类号 G01N27/84(2006.01)I 主分类号 G01N27/84(2006.01)I
代理机构 郑州立格知识产权代理有限公司 41126 代理人 崔卫琴
主权项 磁粉检测测深孔型试块,其特征在于:试块上分布有数个相对试块垂直设置的平底孔,数个平底孔均匀分布于试块的水平对称轴和垂直对称轴上;数个平底孔的位置相对于试块的中心点中心对称,每两个平底孔之间的深度差最小为0.4~0.6mm;平底孔的最小深度为2.4~2.6mm,平底孔的深度与试块的高度差至少为0.9~1.1mm。
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