发明名称 Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung mit einer Metallnitridschicht und Halbleitervorrichtung
摘要 Ein Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung umfasst ein Einbringen von Stickstoff in eine Metallschicht (131) oder in eine Metallnitridschicht (130), wobei die Metallschicht (131) oder die Metallnitridschicht (130) in Kontakt mit einem Halbleitermaterial (100) gebildet sind. Eine Halbleitervorrichtung umfasst ein Halbleitermaterial (100) und eine Metallnitridschicht (130) in Kontakt mit dem Halbleitermaterial (100). Das Metallnitrid hat einen Stickstoffgehalt größer als eine Lösbarkeitsgrenze von Stickstoff in dem Metallnitrid.
申请公布号 DE102015122020(A1) 申请公布日期 2016.06.23
申请号 DE201510122020 申请日期 2015.12.16
申请人 Infineon Technologies AG 发明人 Konrath, Jens Peter;Schulze, Hans-Joachim;Schörner, Reinhold
分类号 H01L21/329;H01L21/22;H01L21/265;H01L21/28;H01L29/161;H01L29/872 主分类号 H01L21/329
代理机构 代理人
主权项
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