发明名称 |
Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung mit einer Metallnitridschicht und Halbleitervorrichtung |
摘要 |
Ein Verfahren zum Herstellen einer Halbleitervorrichtung umfasst ein Einbringen von Stickstoff in eine Metallschicht (131) oder in eine Metallnitridschicht (130), wobei die Metallschicht (131) oder die Metallnitridschicht (130) in Kontakt mit einem Halbleitermaterial (100) gebildet sind. Eine Halbleitervorrichtung umfasst ein Halbleitermaterial (100) und eine Metallnitridschicht (130) in Kontakt mit dem Halbleitermaterial (100). Das Metallnitrid hat einen Stickstoffgehalt größer als eine Lösbarkeitsgrenze von Stickstoff in dem Metallnitrid. |
申请公布号 |
DE102015122020(A1) |
申请公布日期 |
2016.06.23 |
申请号 |
DE201510122020 |
申请日期 |
2015.12.16 |
申请人 |
Infineon Technologies AG |
发明人 |
Konrath, Jens Peter;Schulze, Hans-Joachim;Schörner, Reinhold |
分类号 |
H01L21/329;H01L21/22;H01L21/265;H01L21/28;H01L29/161;H01L29/872 |
主分类号 |
H01L21/329 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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