发明名称 |
一种用于电子背散射衍射仪的样品台 |
摘要 |
本发明实施例公开了一种用于电子背散射衍射仪的样品台,涉及岩石样品分析测试领域,能够在保证实验的安全性的同时满足样品尺寸大、导电性差的样本进行有标样的测试需求。本发明包括:样品台的固定面与底座呈70°夹角,固定面上开有凹槽,凹槽用于安装并固定薄片样品,凹槽与薄片样品的尺寸吻合;凹槽的深度与薄片样品的厚度一致,当薄片样品安装在凹槽中时,薄片样品的待测表面与固定面的表面处于同一平面。固定面上开有用于安装单晶硅标样的标样凹槽,标样凹槽的深度与单晶硅标样的厚度一致,当单晶硅标样安装在标样凹槽中时,单晶硅标样的待测表面与固定面的表面处于同一平面。本发明适用于尺寸大、导电性差的样本的有标样测试。 |
申请公布号 |
CN105699408A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201610235494.0 |
申请日期 |
2016.04.15 |
申请人 |
南京大学 |
发明人 |
李娟;王勤;陆现彩;陆建军 |
分类号 |
G01N23/203(2006.01)I;G01N23/205(2006.01)I;H01J37/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01N23/203(2006.01)I |
代理机构 |
江苏圣典律师事务所 32237 |
代理人 |
贺翔 |
主权项 |
一种用于电子背散射衍射仪的样品台,其特征在于,包括:所述样品台的固定面与底座呈70°夹角,所述固定面上开有凹槽,所述凹槽用于安装并固定薄片样品,所述凹槽与所述薄片样品的尺寸吻合;所述凹槽的深度与所述薄片样品的厚度一致,当所述薄片样品安装在所述凹槽中时,所述薄片样品的待测表面与所述固定面的表面处于同一平面。 |
地址 |
210023 江苏省南京市栖霞区仙林大道163号南京大学 |