发明名称 |
一种序列检测方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种序列检测方法及装置,包括:干扰消除模块、相位误差计算模块、维特比模块、判决比特修正模块以及缓存模块。输入频域样本信号,进行干扰消除,获得判决比特和判决变量;判决比特进入缓存模块,以匹配维特比模块引入的处理延时,而判决变量和判决比特一起输入到相位误差计算模块,以计算判决误差;获得的判决误差变量输入到维特比模块,利用多个判决误差变量联合检测,获得修正后的判决误差变量值;利用修正后的判决误差变量,对判决比特进行修正,最终获得输出的修正比特。本发明可以应用于高阶差分调制信号,拥有较好的检测性能,以及较好的鲁棒性。 |
申请公布号 |
CN105703878A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201410710037.3 |
申请日期 |
2014.11.28 |
申请人 |
联芯科技有限公司 |
发明人 |
宋挥师 |
分类号 |
H04L1/00(2006.01)I;H04L25/02(2006.01)I;H04L25/03(2006.01)I |
主分类号 |
H04L1/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京品源专利代理有限公司 11332 |
代理人 |
路凯;胡彬 |
主权项 |
一种序列检测方法,其特征在于,包括以下步骤:对输入频域样本信号进行干扰消除,获得判决比特和判决变量;对所述判决比特和判决变量进行相位误差计算得到判决误差变量,即对应于栅格图中的状态属性;对所述判决误差变量进行维特比运算获得修正后的判决误差变量;利用修正后的判决误差变量修正判决比特获得修正比特。 |
地址 |
200233 上海市徐汇区钦江路333号41幢4楼 |