发明名称 一种序列检测方法及装置
摘要 本发明公开了一种序列检测方法及装置,包括:干扰消除模块、相位误差计算模块、维特比模块、判决比特修正模块以及缓存模块。输入频域样本信号,进行干扰消除,获得判决比特和判决变量;判决比特进入缓存模块,以匹配维特比模块引入的处理延时,而判决变量和判决比特一起输入到相位误差计算模块,以计算判决误差;获得的判决误差变量输入到维特比模块,利用多个判决误差变量联合检测,获得修正后的判决误差变量值;利用修正后的判决误差变量,对判决比特进行修正,最终获得输出的修正比特。本发明可以应用于高阶差分调制信号,拥有较好的检测性能,以及较好的鲁棒性。
申请公布号 CN105703878A 申请公布日期 2016.06.22
申请号 CN201410710037.3 申请日期 2014.11.28
申请人 联芯科技有限公司 发明人 宋挥师
分类号 H04L1/00(2006.01)I;H04L25/02(2006.01)I;H04L25/03(2006.01)I 主分类号 H04L1/00(2006.01)I
代理机构 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人 路凯;胡彬
主权项 一种序列检测方法,其特征在于,包括以下步骤:对输入频域样本信号进行干扰消除,获得判决比特和判决变量;对所述判决比特和判决变量进行相位误差计算得到判决误差变量,即对应于栅格图中的状态属性;对所述判决误差变量进行维特比运算获得修正后的判决误差变量;利用修正后的判决误差变量修正判决比特获得修正比特。
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