发明名称 一种应用于盖革模式APD探测器的有源淬火电路
摘要 本发明公开了一种应用于盖革模式APD探测器的有源淬火电路,包括nmos管M<sub>1</sub>、nmos管M<sub>2</sub>、pmos管M<sub>3</sub>、nmos管M<sub>4</sub>、pmos管M<sub>5</sub>、pmos管M<sub>6</sub>、nmos管M<sub>7</sub>、nmos管M<sub>8</sub>、电容C<sub>1</sub>、反相器Inv1、反相器Inv2和与非门NAND;其中,nmos管M<sub>1</sub>的漏极与APD探测器的阳极相连,APD探测器的阴极与反偏高压V<sub>B+ex</sub>相连。采用反馈结构实现了对APD探测器或者APD阵列的亚纳秒级主动淬火和快速复位,它的淬火时间在亚纳秒级;hold-off时间最大为5ns,且根据实际情况可自行调节;整体电路结构简单紧凑,面积很小,功耗低、速度快,适用于单个或像素级APD探测器的淬火,为APD探测器实现随机连续性探测、延长器件使用寿命提供了可靠保障。
申请公布号 CN105698826A 申请公布日期 2016.06.22
申请号 CN201610047722.1 申请日期 2016.01.25
申请人 天津大学 发明人 赵毅强;赵佳姮;夏显召;赵公元;刘银齐;王景帅
分类号 G01D3/08(2006.01)I 主分类号 G01D3/08(2006.01)I
代理机构 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人 李丽萍
主权项 一种应用于盖革模式APD探测器的有源淬火电路,包括与APD探测器阳极相连的nmos管M<sub>1</sub>,所述APD探测器的阴极与反偏高压V<sub>B+ex</sub>相连,其特征在于:该有源淬火电路还包括nmos管M<sub>2</sub>、pmos管M<sub>3</sub>、nmos管M<sub>4</sub>、pmos管M<sub>5</sub>、pmos管M<sub>6</sub>、nmos管M<sub>7</sub>、nmos管M<sub>8</sub>、电容C<sub>1</sub>、反相器Inv1、反相器Inv2和与非门NAND;所述APD探测器的阳极与nmos管M<sub>1</sub>的漏极相连,所述nmos管M<sub>1</sub>的漏极还连接至自身的栅极,所述nmos管M<sub>1</sub>的源极与所述nmos管M<sub>2</sub>的漏极相连,所述nmos管M<sub>2</sub>的栅极与所述反相器Inv1的输出端V<sub>s</sub>相连,所述nmos管M<sub>2</sub>的源极与地相连;所述pmos管M<sub>3</sub>的源极与外供APD的雪崩电压V<sub>B</sub>相连,所述pmos管M<sub>3</sub>的栅极与所述反相器Inv1的输出端V<sub>s</sub>相连,所述nmos管M<sub>1</sub>的栅极、反相器Inv1的输入端V<sub>134</sub>和nmos管M<sub>4</sub>的漏极相连并联于所述pmos管M<sub>3</sub>的漏极,所述nmos管M<sub>4</sub>的栅极与所述与非门NAND的输出端V<sub>reset</sub>相连,所述nmos管M<sub>4</sub>的漏极与地相连;所述pmos管M<sub>5</sub>的源极与电源电压V<sub>DD</sub>相连,所述pmos管M<sub>5</sub>的栅极是电路的控制端V<sub>hold‑off</sub>,所述pmos管M<sub>5</sub>的漏极与所述pmos管M<sub>6</sub>的源极相连,所述反相器Inv1的输出端V<sub>s</sub>和所述nmos管M<sub>7</sub>的栅极并联于所述pmos管M<sub>6</sub>的栅极,所述nmos管M<sub>7</sub>的漏极、nmos管M<sub>8</sub>的漏极、电容C<sub>1</sub>的上极板、反相器Inv2的输入端V<sub>cap</sub>并联于所述pmos管M<sub>6</sub>的漏极,所述nmos管M<sub>7</sub>的源极与地相连;所述nmos管M<sub>8</sub>的源极与所述电容C<sub>1</sub>的下极板、地相连,所述nmos管M8的栅极是电路的输入信号端V<sub>G</sub>;所述反相器Inv2的输出端V<sub>3</sub>与所述与非门NAND的第一个输入端相连,所述与非门NAND的第二个输入端是电路的输入信号端RST,所述与非门NAND的输出端V<sub>reset</sub>与所述nmos管M<sub>4</sub>的栅极相连。
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