发明名称 |
一种PVT法生长碳化硅单晶时随炉退火的方法 |
摘要 |
本发明公开了一种PVT法生长碳化硅单晶时随炉退火的方法,为该方法配备一晶体生长用单晶炉,该方法包括如下步骤:步骤1)调整所述保温结构使所述发热筒内得到理想的温区分布,在所述坩埚内进行碳化硅晶体生长;步骤2)碳化硅晶体生长完成后,使用所述提拉机构控制所述坩埚,将其移至所述发热筒内低于晶体生长温度的区域;步骤3)待晶体温度恒定后,启动温控程序将单晶炉内温度缓慢降至室温,降温后出炉、取锭。以此达到去除晶体内部应力的目的。 |
申请公布号 |
CN105696082A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201610241793.5 |
申请日期 |
2016.04.19 |
申请人 |
北京世纪金光半导体有限公司 |
发明人 |
刘欣宇;陈颖超;张云伟;何丽娟;靳丽婕;郭希;程章勇 |
分类号 |
C30B33/02(2006.01)I;C30B29/36(2006.01)I;C30B23/00(2006.01)I |
主分类号 |
C30B33/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 |
代理人 |
尹振启;张希宇 |
主权项 |
一种PVT法生长碳化硅单晶时随炉退火的方法,其特征在于,为该方法配备一晶体生长用单晶炉,该单晶炉包括坩埚、发热筒、保温结构和感应线圈,所述坩埚置于所述发热筒内,与坩埚连接有驱动其在发热筒内上下移动的提拉机构,发热筒四周包覆有所述保温结构,所述感应线圈与发热筒配合使用,对发热筒感应加热;该方法包括如下步骤:步骤1)调整所述保温结构使所述发热筒内得到理想的温区分布,在所述坩埚内进行碳化硅晶体生长;步骤2)碳化硅晶体生长完成后,使用所述提拉机构控制所述坩埚,将其移至所述发热筒内低于晶体生长温度的区域;步骤3)待晶体温度恒定后,启动温控程序将单晶炉内温度缓慢降至室温,降温后出炉、取锭。 |
地址 |
101111 北京市通州区经济技术开发区通惠干渠路17号院 |