发明名称 |
粒子放射線の非電離効果に関連する線量を測定する方法 |
摘要 |
A method for measuring a dose related to the non-ionizing effects of a radiation of particles comprises the irradiation of a capacitive element provided with an electrode made from a semiconductor material, the measurement of the capacitance of the capacitive element in an accumulation regime and the determination of the dose related to the non-ionizing effects from the measurement of capacitance of the capacitive element in the accumulation regime. |
申请公布号 |
JP5937108(B2) |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
JP20130552240 |
申请日期 |
2012.01.31 |
申请人 |
ユニベルシテ・モンペリエ・2・シアンス・エ・テクニクUNIVERSITE MONTPELLIER 2 SCIENCES ET TECHNIQUES |
发明人 |
リシャール、アリネロ;ジュリアン、メキ;アントワーヌ、トゥボール;フレデリク、セニュ;ジャン‐ロック、バイル |
分类号 |
G01T1/02;G01T1/24 |
主分类号 |
G01T1/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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