发明名称 |
框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法 |
摘要 |
本发明提供一种框胶固化率测试样品的制备方法及框胶固化率测试方法。本发明的框胶固化率测试样品的制备方法,利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除,操作简单,成功率高,制得的框胶固化率测试样品表面干净、无黑色矩阵残留。本发明的框胶固化率测试方法,利用碱性溶液将框胶表面的黑色矩阵去除后,采用红外光谱仪测试框胶的红外光谱图,计算得到框胶固化率,该方法操作简单,提高了框胶固化率测试的可执行性,测试结果的准确度高,为制程监控及框胶异常解析提供数据。 |
申请公布号 |
CN105700207A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201610210416.5 |
申请日期 |
2016.04.06 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
巫景铭 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I;G02F1/1339(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
深圳市德力知识产权代理事务所 44265 |
代理人 |
林才桂 |
主权项 |
一种框胶固化率测试样品的制备方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤1、获取表面附着有框胶(30)和黑色矩阵(12)的TFT基板(20),作为待测样本(80);步骤2、将所述待测样本(80)放置于容器(70)中,在所述容器(70)中加入碱性溶液,浸泡所述待测样本(80),直至黑色矩阵(12)软化;步骤3、将软化的黑色矩阵(12)从框胶(30)上剥离,得到由TFT基板(20)与附着于其上的框胶(30)构成的框胶固化率测试样品(60)。 |
地址 |
518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9—2号 |