发明名称 |
伽马电压校正方法及装置 |
摘要 |
本发明公开了一种伽马电压校正方法及装置,涉及显示领域,能够解决了现有伽马校正时间长的问题,可以提高生产效率。本发明的伽马电压校正方法,包括:S1、获取特征灰阶点对应的数据电压:S2、获取各个绑点灰阶对应的伽马寄存器值;S3、微调:将各个绑点灰阶的所述伽马寄存器值输入到所述显示模组,并在此基础上对各个灰阶的光学参数进行微调;S4、测试:测试所述显示模组的伽马曲线,并与目标伽马曲线进行比对,如果不满足产品规格要求,则继续执行步骤S3,直至所述显示模组符合产品规格要求。 |
申请公布号 |
CN105702215A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201610267049.2 |
申请日期 |
2016.04.26 |
申请人 |
京东方科技集团股份有限公司;鄂尔多斯市源盛光电有限责任公司 |
发明人 |
张志广;张光均;张昌;杨华玲;刘静 |
分类号 |
G09G3/3258(2016.01)I |
主分类号 |
G09G3/3258(2016.01)I |
代理机构 |
北京中博世达专利商标代理有限公司 11274 |
代理人 |
申健 |
主权项 |
一种伽马电压校正方法,其特征在于,包括:S1、获取特征灰阶点对应的数据电压:在显示模组上,将所述特征灰阶点对应的光学参数调整到目标值,获取调整后所述特征灰阶点对应的数据电压,所述特征灰阶点从绑点灰阶中选取;S2、获取各个绑点灰阶对应的伽马寄存器值:根据所述特征灰阶点的数据电压,通过插值法获得除所述特征灰阶点之外其它绑点灰阶对应的数据电压,然后根据驱动芯片的数据电压公式,计算出各个绑点灰阶对应的伽马寄存器值;S3、微调:将各个绑点灰阶的所述伽马寄存器值输入到所述显示模组,并在此基础上对各个绑点灰阶的光学参数进行微调;S4、测试:测试所述显示模组的伽马曲线,并与目标伽马曲线进行比对,如果不满足产品规格要求,则继续执行步骤S3,直至所述显示模组符合产品规格要求。 |
地址 |
100015 北京市朝阳区酒仙桥路10号 |