| 摘要 |
Es wird ein Verfahren zur optischen Formerfassung und/oder Formprüfung eines Gegenstands, wobei eine strukturierte Beleuchtung verwendet wird, vorgeschlagen. Das Verfahren zeichnet sich dadurch aus, dass ein Bestrahlungsstärkeprofil der strukturierten Beleuchtung bereitgestellt wird, das auf einem durch eine Modulationsfunktion gemäß eines Modulationsverfahrens modulierten Trägersignal basiert. |
