发明名称 | 键合线布置的可调损耗 | ||
摘要 | 本发明提供一种键合线布置,该键合线布置包括:信号键合线(1),该信号键合线(1)用于将第一电子装置(6)可操作地连接到第二电子装置(8);以及控制键合线(2),该控制键合线(2)与该信号键合线相隔一段距离并排布置,以便与该信号键合线(1)磁耦合,并且具有耦合到地的第一端(11)和经由电阻元件(14)耦合到地的第二端(12)。所提出的解决方案允许在组装阶段期间控制引线键合电感器的Q因数(损耗),相比于已知方法,这将节省时间并减少总体设计周期。 | ||
申请公布号 | CN105706223A | 申请公布日期 | 2016.06.22 |
申请号 | CN201380080740.4 | 申请日期 | 2013.11.07 |
申请人 | 飞思卡尔半导体公司 | 发明人 | 尤里·沃洛霍恩 |
分类号 | H01L21/60(2006.01)I | 主分类号 | H01L21/60(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人 | 倪斌 |
主权项 | 一种键合线布置,其特征在于,包括:信号键合线(1),所述信号键合线(1)用于将第一装置(6)可操作地连接到第二电子装置(7);控制键合线(2),所述控制键合线(2)与所述信号键合线相隔距离(d)并排布置,以便与所述信号键合线磁耦合,并且具有耦合到地的第一端(11)和经由电阻元件(14)耦合到地的第二端(12)。 | ||
地址 | 美国得克萨斯州 |