发明名称 |
AVSS管脚及VSS管脚的开路测试方法 |
摘要 |
本发明公开了一种AVSS管脚及VSS管脚的开路测试方法,其中,AVSS管脚的开路测试方法包括:在芯片的AVSS系管脚中,选取一个管脚作为测试管脚,其中,AVSS系管脚是芯片的所有管脚中使用模拟电源进行供电的管脚;对AVSS系管脚中的其余管脚印加电流,并测量测试管脚的电压;将测试管脚的电压值与预先得到的AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值进行比较;如果测试管脚的电压值高于AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值,则确定AVSS管脚开路;其中,芯片的AVSS与VSS管脚通过引线框架短接。本发明对VSS与AVSS管脚通过引线框架短接的芯片,能够判断出AVSS或VSS管脚是否开路,且测试时间较短。 |
申请公布号 |
CN105699880A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201610169575.5 |
申请日期 |
2016.03.23 |
申请人 |
瑞萨集成电路设计(北京)有限公司 |
发明人 |
冯明亮 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I;G01R31/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人 |
王涛 |
主权项 |
一种AVSS管脚的开路测试方法,其特征在于,包括:在芯片的AVSS系管脚中,选取一个管脚作为测试管脚,其中,所述AVSS系管脚是所述芯片的所有管脚中使用模拟电源进行供电的管脚;对所述AVSS系管脚中的其余管脚印加电流,并测量所述测试管脚的电压;将所述测试管脚的电压值与预先得到的AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值进行比较;如果所述测试管脚的电压值高于所述AVSS管脚未开路情况下的测试管脚电压值,则确定所述AVSS管脚开路;其中,所述芯片的所述AVSS管脚与VSS管脚通过引线框架短接。 |
地址 |
100191 北京市海淀区知春路27号量子芯座7层 |