发明名称 |
一种光学元件反射率测量仪 |
摘要 |
本实用新型提供了一种光学元件反射率测量仪,用于光学元件反射率的测量。本实用新型的光学元件反射率测量仪采用光电二极管采集光学元件或光学标准片的反射光并转换为电信号,电信号再经过前置放大器和锁相放大器放大后,得到与信号光强度成正比的直流电压信号。该仪器以测量光学标准片反射光所获得的直流电压信号为基准,测量待测元件反射光所获得的直流电压信号与基准比对,获得待测光学元件的反射率。本实用新型结构简单,易于实现,测量精度高,且能够实现对光学元件反射率的在线测量。 |
申请公布号 |
CN205333514U |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201620028723.7 |
申请日期 |
2016.01.13 |
申请人 |
中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
发明人 |
贾宝申;吕海兵;苗心向;牛龙飞;周国瑞;刘昊;李可欣 |
分类号 |
G01N21/55(2014.01)I |
主分类号 |
G01N21/55(2014.01)I |
代理机构 |
中国工程物理研究院专利中心 51210 |
代理人 |
翟长明;韩志英 |
主权项 |
一种光学元件反射率测量仪,其特征在于,包括激光器(1),斩光器(2),样品装卡台(3),光学标准片(4),光电二极管(5),前置放大器(6),锁相放大器(7)和计算机(8);所述的激光器(1)输出的连续激光经斩光器(2)调制后变成脉冲激光,脉冲激光直接照射在放置于样品装卡台(3) 上的光学标准片(4),从光学标准片(4)反射的反射脉冲激光被光电二极管(5)接收并转换为脉冲电压信号,脉冲电压信号依次经过前置放大器(6)和锁相放大器(7)放大后,输出与反射光强成正比的直流电压信号,直流电压信号传输至计算机(8)。 |
地址 |
621999 四川省绵阳市919信箱988分箱 |