发明名称 |
IGBT耦合热阻抗的离散化方波提取方法及装置 |
摘要 |
本发明提供的IGBT耦合热阻抗的离散化方波提取方法,包括对IGBT加热,测量小电流密度下FWD导通压降;对FWD加热,测量小电流密度下IGBT的饱和压降,根据测量小电流密度下FWD导通压降和IGBT的饱和压降,间接获取IGBT与FWD结温变化曲线,计算得到连续变化的耦合热阻抗曲线,通过所述耦合热阻抗曲线拟合得到IGBT与FWD的耦合热阻抗;本发明通过较为简单的方法通过对端部电气特征量的测量来提取IGBT模块的耦合热阻抗,进而建立较为完善的IGBT综合热网络模型,本发明通过将IGBT模块视为一个黑盒子,忽略其内部封装结构,在不破坏模块封装的情况下,利用现有的热敏参数法测量热阻的原理,采用离散化测量方波,实现对耦合热阻抗的测量,本发明具有简单有效、响应快速、测量准确的优点。 |
申请公布号 |
CN105699775A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201610156973.3 |
申请日期 |
2016.03.18 |
申请人 |
重庆大学 |
发明人 |
周雒维;张晏铭;蔡杰;彭英舟;王凯宏;孙鹏菊;杜雄 |
分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01R27/02(2006.01)I |
代理机构 |
北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 11129 |
代理人 |
谢殿武 |
主权项 |
一种IGBT耦合热阻抗的离散化方波提取方法,其特征在于:包括对IGBT加热,测量FWD导通压降及其壳温变化曲线;对FWD加热,测量IGBT的饱和压降及其壳温变化曲线,通过对FWD导通压降和IGBT的饱和压降的测量,获取IGBT与FWD的结温,根据所测FWD和IGBT结温和壳温变化曲线得到IGBT与FWD连续变化的耦合热阻抗曲线,通过所述耦合热阻抗曲线拟合获取IGBT与FWD的耦合热阻抗。 |
地址 |
400044 重庆市沙坪坝区沙正街174号 |