发明名称 晶圆切割方法
摘要 本发明提供一种晶圆切割方法,其包括:提供晶圆,该晶圆包括正面和与该正面相对应的背面;通过镭射切割工艺自所述晶圆的正面向其背面进行切割,以在所述晶圆的正面形成多个切割道;在形成有切割道的晶圆的正面上贴附研磨胶膜;对贴附有研磨胶膜的晶圆进行背面研磨,以使所述切割道贯穿研磨后的晶圆,从而形成多个分离的芯片。由于采用了先镭射切割,后研磨工艺,并且镭射切割不会产生切割应力,因此本发明中的晶圆切割方法不仅可以避免薄晶圆的破裂,也可应用于切割低介电常数晶圆。
申请公布号 CN103441104B 申请公布日期 2016.06.22
申请号 CN201310382986.9 申请日期 2013.08.29
申请人 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 发明人 陆建刚
分类号 H01L21/78(2006.01)I 主分类号 H01L21/78(2006.01)I
代理机构 无锡互维知识产权代理有限公司 32236 代理人 庞聪雅;陈军
主权项 一种晶圆切割方法,其特征在于,其包括:提供晶圆,该晶圆包括正面和与该正面相对应的背面;通过镭射切割工艺自所述晶圆的正面向其背面进行切割,以在所述晶圆的正面侧形成多个切割道;在形成有所述切割道的晶圆的正面上贴附研磨胶膜;对贴附有研磨胶膜的晶圆进行背面研磨,以使所述切割道贯穿研磨后的晶圆,从而形成多个分离的芯片,提供的所述晶圆还包括半导体层和形成于所述半导体层上的金属层,所述金属层位于所述晶圆的正面,所述切割道自所述晶圆的正面贯穿所述金属层,其末端延伸入所述半导体层。
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