发明名称 |
电路和用于测量电流的方法 |
摘要 |
本发明涉及电路和用于测量电流的方法。在本文中描述了电路、具有过电流保护的开关以及用于测量电流的方法。被配置为从供应电压提供电流到负载的电路包含第一晶体管、第二晶体管以及探测电路。第一晶体管比第二晶体管具有更大的有源区域。探测电路被配置为探测通过第二晶体管的电流。相同的电压被施加在第一晶体管的控制端子与第一晶体管的第一受控端子之间并且被施加在第二晶体管的控制端子与第二晶体管的第一受控端子之间。探测电路被耦合到第二晶体管的第二受控端子并且被耦合到供应电压。 |
申请公布号 |
CN105703754A |
申请公布日期 |
2016.06.22 |
申请号 |
CN201510902142.1 |
申请日期 |
2015.12.09 |
申请人 |
英飞凌科技股份有限公司 |
发明人 |
M.阿萨姆;A.迈泽;S.蒂勒 |
分类号 |
H03K17/567(2006.01)I;H03K17/687(2006.01)I;H03K17/081(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I |
主分类号 |
H03K17/567(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
申屠伟进;张涛 |
主权项 |
一种电路,被配置为从供应电压提供电流到负载,包括:第一晶体管;第二晶体管;以及探测电路,被配置为探测通过第二晶体管的电流;其中,第一晶体管比第二晶体管具有更大的有源区域;其中,相同的电压被施加在第一晶体管的控制端子与第一晶体管的第一受控端子之间并且被施加在第二晶体管的控制端子与第二晶体管的第一受控端子之间;其中,探测电路被耦合到第二晶体管的第二受控端子;并且其中,探测电路被耦合到供应电压。 |
地址 |
德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号 |