发明名称 |
一种流体组分分析仪及其探测通道布置方法 |
摘要 |
本发明涉及一种流体组分分析仪及其探测通道布置方法,它包括一上位机、一控制系统、一光源模块、一光学探头和若干探测器,其中,光学探头包括若干探测通道,且探测通道和探测器一一对应;上位机供用户输入控制指令,并将控制指令发送给控制系统,控制系统接收控制指令并驱动光源模块发光,光源模块将所发的光经光学探头发送到待测流体表面,光在待测流体表面发生反射并经各探测通道发送到探测器,探测器将探测到的反射光强信号通过控制系统发送到上位机,上位机将各探测器探测到的光强值与标准库进行对比,进而确定待测流体的组分及比例。本发明能够快速实时确定流体中各组分所占比例。 |
申请公布号 |
CN105675501A |
申请公布日期 |
2016.06.15 |
申请号 |
CN201610191652.7 |
申请日期 |
2016.03.30 |
申请人 |
清华大学 |
发明人 |
丁武文;衣路英;章恩耀;孙利群 |
分类号 |
G01N21/17(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I |
主分类号 |
G01N21/17(2006.01)I |
代理机构 |
北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 |
代理人 |
徐宁;刘美丽 |
主权项 |
一种流体组分分析仪,其特征在于:它包括一上位机、一控制系统、一光源模块、一光学探头和若干探测器,其中,所述光学探头包括若干探测通道,且所述探测通道和探测器一一对应;所述上位机供用户输入控制指令,并将控制指令发送给所述控制系统,所述控制系统接收控制指令并驱动所述光源模块发光,所述光源模块将所发的光经所述光学探头发送到待测流体表面,光在待测流体表面发生反射并经各探测通道发送到所述探测器,所述探测器将探测到的反射光强信号通过所述控制系统发送到所述上位机,所述上位机将各所述探测器探测到的光强值与标准库进行对比,进而确定待测流体的组分及比例。 |
地址 |
100084 北京市海淀区100084信箱82分箱清华大学专利办公室 |