发明名称 |
消像散光谱仪 |
摘要 |
本发明公开一种消像散光谱仪,该消像散光谱仪包括:入射狭缝;准直元件,设置于所述入射狭缝之后,用于将所述入射狭缝出射的光线变为平行光;色散元件,接收所述准直元件出射的平行光,用于将所述平行光在空间上按波长分散成为多条光束;聚焦元件,接收所述色散元件出射的多条光束,用于聚焦色散后的光束;探测装置,放置于所述聚焦元件出射光线的焦平面,用于测量各波长的聚焦光斑的强度;消像散元件,设置于所述探测装置之前,用于校正各波长的像散,在所述焦平面上获得能量集中的聚焦光斑。因此,实施本发明能够校正像散,提高收集效率及灵敏度。 |
申请公布号 |
CN105675132A |
申请公布日期 |
2016.06.15 |
申请号 |
CN201511006054.X |
申请日期 |
2015.12.29 |
申请人 |
北京华泰诺安探测技术有限公司 |
发明人 |
熊胜军;袁丁;牟涛涛;赵喜 |
分类号 |
G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I |
主分类号 |
G01J3/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 |
代理人 |
李冬梅;苗源 |
主权项 |
一种消像散光谱仪,其特征在于,包括:入射狭缝(10);准直元件(20),设置于所述入射狭缝(10)之后,用于将所述入射狭缝(10)出射的光线变为平行光;色散元件(30),接收所述准直元件(20)出射的平行光,用于将所述平行光在空间上按波长分散成为多条光束;聚焦元件(40),接收所述色散元件(30)出射的多条光束,用于聚焦色散后的光束;探测装置(50),放置于所述聚焦元件(40)出射光线的焦平面,用于测量各波长的聚焦光斑的强度;消像散元件(60),设置于所述探测装置(50)之前,用于校正各波长的像散,在所述焦平面上获得能量集中的聚焦光斑。 |
地址 |
101312 北京市顺义区临空经济核心区裕华路28号5号楼4层002室 |