发明名称 消像散光谱仪
摘要 本发明公开一种消像散光谱仪,该消像散光谱仪包括:入射狭缝;准直元件,设置于所述入射狭缝之后,用于将所述入射狭缝出射的光线变为平行光;色散元件,接收所述准直元件出射的平行光,用于将所述平行光在空间上按波长分散成为多条光束;聚焦元件,接收所述色散元件出射的多条光束,用于聚焦色散后的光束;探测装置,放置于所述聚焦元件出射光线的焦平面,用于测量各波长的聚焦光斑的强度;消像散元件,设置于所述探测装置之前,用于校正各波长的像散,在所述焦平面上获得能量集中的聚焦光斑。因此,实施本发明能够校正像散,提高收集效率及灵敏度。
申请公布号 CN105675132A 申请公布日期 2016.06.15
申请号 CN201511006054.X 申请日期 2015.12.29
申请人 北京华泰诺安探测技术有限公司 发明人 熊胜军;袁丁;牟涛涛;赵喜
分类号 G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I 主分类号 G01J3/28(2006.01)I
代理机构 北京名华博信知识产权代理有限公司 11453 代理人 李冬梅;苗源
主权项 一种消像散光谱仪,其特征在于,包括:入射狭缝(10);准直元件(20),设置于所述入射狭缝(10)之后,用于将所述入射狭缝(10)出射的光线变为平行光;色散元件(30),接收所述准直元件(20)出射的平行光,用于将所述平行光在空间上按波长分散成为多条光束;聚焦元件(40),接收所述色散元件(30)出射的多条光束,用于聚焦色散后的光束;探测装置(50),放置于所述聚焦元件(40)出射光线的焦平面,用于测量各波长的聚焦光斑的强度;消像散元件(60),设置于所述探测装置(50)之前,用于校正各波长的像散,在所述焦平面上获得能量集中的聚焦光斑。
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