发明名称 可模拟熔断的熔丝电路
摘要 本发明提供一种可模拟熔断的熔丝电路,其包括熔丝、第一置位电路、第二置位电路和锁存器。第一置位电路的输出端与所述熔丝的第一连接端相连;第二置位电路的输出端与熔丝电路的输出端相连;锁存器的输入端与所述熔丝的第二连接端相连,锁存器的输出端与熔丝电路的输出端相连。当熔丝熔断时,由第二置位电路使得熔丝电路的输出端输出熔断信号;当熔丝未熔断且需要模拟熔断时,将第一连接端置位于熔断置位电平,该熔断置位电平使得熔丝电路的输出端输出熔断信号。与现有技术相比,本发明中的可模拟熔断的熔丝电路可以模拟熔丝熔断效果,以在晶圆测试时,先通过所述熔丝电路模拟熔丝熔断来测试芯片的电路性能,从而增加芯片的成品率。
申请公布号 CN103700405B 申请公布日期 2016.06.15
申请号 CN201310646521.X 申请日期 2013.12.04
申请人 无锡华润矽科微电子有限公司 发明人 刘玉芳;罗先才;徐栋;严淼;沈天平;孙静;徐宵隽
分类号 G11C17/16(2006.01)I;G11C17/18(2006.01)I 主分类号 G11C17/16(2006.01)I
代理机构 无锡互维知识产权代理有限公司 32236 代理人 庞聪雅
主权项 一种可模拟熔断的熔丝电路,其特征在于,其包括熔丝、第一置位电路、第二置位电路和锁存器,所述第一置位电路的输出端与所述熔丝的第一连接端相连;所述第二置位电路的输出端与所述熔丝电路的输出端相连;所述锁存器的输入端与所述熔丝的第二连接端相连,所述锁存器的输出端与所述熔丝电路的输出端相连,当熔丝熔断时,由所述第二置位电路置位所述熔丝电路的输出端,以使得所述熔丝电路的输出端输出熔断信号;当熔丝未熔断且不需要模拟熔断时,由第一置位电路通过所述熔丝以及锁存器置位所述熔丝电路的输出端,以使得所述熔丝电路的输出端输出未熔断信号;当熔丝未熔断且需要模拟熔断时,将所述第一连接端置位于熔断置位电平,该熔断置位电平经过所述熔丝以及锁存器后使得所述熔丝电路的输出端输出熔断信号。
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