利用FOM获取中子单粒子效应器件敏感截面的方法及装置

摘要

本发明提供了一种利用FOM获取中子单粒子效应器件敏感截面的方法及装置，包括：采用预定辐射源进行地面模拟实验，获取敏感器件敏感截面的观测值σ_观测，并监测实验中敏感器件的单粒子效应错误个数N_end；将采用FOM方法计算得出的敏感器件敏感截面值σ_FOM与敏感器件敏感截面的观测值σ_观测进行除运算，得到第一辅助因子；将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σ_Rosetta与敏感器件敏感截面的观测值σ_观测进行除运算，得到第二辅助因子；根据第一辅助因子、第二辅助因子计算以及单粒子效应错误个数计算修正因子的值；利用修正因子对敏感器件敏感截面的观测值σ_预设进行修正。本发明能够获得真实环境下大气中子单粒子效应敏感器件的敏感截面，为机载电子设备的防护与评价提供重要依据。

主权项

一种利用FOM获取中子单粒子效应器件敏感截面的方法，其特征在于，包括：采用预定辐射源进行地面模拟实验，获取在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测，并监测所述模拟实验中敏感器件的单粒子效应错误个数N_end；将采用FOM方法计算得出的敏感器件敏感截面值σ_FOM与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测进行除运算，得到第一辅助因子；将采用Rosetta真实环境试验获得的敏感器件敏感截面值σ_Rosetta与所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测进行除运算，得到第二辅助因子；根据所述第一辅助因子、第二辅助因子以及所述单粒子效应错误个数计算修正因子的值；根据所述修正因子的值对所述在预定辐射源辐射下敏感器件敏感截面的观测值σ_观测进行修正。