发明名称 AMOLED显示面板检测方法及检测装置
摘要 本发明提供一种AMOLED面板检测方法及检测装置,通过设置温度侦测模块(3)拍摄并记录AMOLED显示面板(2)各显示区域的温度,当该温度侦测模块(3)侦测到AMOLED显示面板(2)某一显示区域的温度超过设定的阈值温度时则说明该AMOLED显示面板(2)内存在短路及微短路的状况,从而能够有效地检测出并及时拦截存在短路及微短路状况的AMOLED显示面板(2),防止其流向后端的装配制程;进一步通过设置阻抗检测模块(4)来对被拦截的AMOLED显示面板(2)中超过阈值温度的显示区域进行阻抗检测,找出该被拦截的AMOLED显示面板(2)中出现短路及微短路的位置,以进行准确的修复,提高面板良率。
申请公布号 CN105679219A 申请公布日期 2016.06.15
申请号 CN201610178387.9 申请日期 2016.03.25
申请人 深圳市华星光电技术有限公司 发明人 王振岭;黄泰钧
分类号 G09G3/00(2006.01)I 主分类号 G09G3/00(2006.01)I
代理机构 深圳市德力知识产权代理事务所 44265 代理人 林才桂
主权项 一种AMOLED显示面板检测方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤1、提供AMOLED显示面板检测装置;所述AMOLED显示面板检测装置至少包括检测信号产生模块(1)、与所述检测信号产生模块(1)电性连接的AMOLED显示面板(2)、及与所述AMOLED显示面板(2)电性连接的温度侦测模块(3);步骤2、所述检测信号产生模块(1)向AMOLED显示面板(2)输出电源正电压(OVDD)、电源负电压(OVSS)、检测用数据信号(Data)、以及检测用扫描信号(Gate),控制所述AMOLED显示面板(2)显示测试画面;步骤3、检测AMOLED显示面板(2)是否存在亮点、与亮线缺陷;步骤4、所述检测信号产生模块(1)控制所述AMOLED显示面板(2)持续显示纯白色画面,同时通过所述温度侦测模块(3)拍摄并记录AMOLED显示面板(2)各显示区域的温度;步骤5、设定阈值温度,对任一显示区域温度超过该阈值温度的AMOLED显示面板(2)进行拦截。
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