一种芯片验证中简化验证模型实现的方法

摘要

本发明揭示了一种芯片验证中简化验证模型实现的方法，其包括激励产生器、验证模型和待测试设计模块，所述激励产生器产生出启动信号、整个报文和处理报文所需的相应控制信号，所述启动信号与整个报文和处理报文所需的相应控制信号同时存在于激励产生器内部的两处队列中，其中一处队列用于发送给待测试设计模块；验证模型直接从激励产生器的另一处队列中直接去取数据和控制信号，验证模型得到完整的报文和处理报文所需要的所有控制信号，可直接对报文数据按照设计的要求进行处理，再根据待测试设计模块的输出接口行为，对处理完的数据进行存储，等待和待测试设计的结果进行比较。本发明简化了验证模型的实现，节省了大量芯片验证的时间。

主权项

一种芯片验证中简化验证模型实现的方法，其包括激励产生器、验证模型和待测试设计模块，其特征在于：所述激励产生器产生出启动信号、整个报文和处理报文所需的相应控制信号，所述启动信号与整个报文和处理报文所需的相应控制信号同时存在于激励产生器内部的两处队列中，其中一处队列用于发送给待测试设计模块；当激励产生器产生好数据的同时，也会将启动信号设为有效，此时验证模型可以直接检测到该启动信号，然后从激励产生器中取出数据进行处理；当验证模型检测到启动信号有效时，验证模型直接从激励产生器的另一处队列中直接去取数据和控制信号，验证模型已经得到完整的报文和处理报文所需要的所有控制信号，可直接对报文数据按照设计的要求进行处理，再根据待测试设计模块的输出接口行为，对处理完的数据进行存储，等待和待测试设计的结果进行比较。