发明名称 一种ICT测试治具
摘要 本发明公开了一种ICT测试治具,包括测试箱、测板、治具层及支柱,所述测板设置在测试箱内侧上部,所述治具层包括异型层、中间层、承重层及网格层,所述中间层与异型层之间设有定位针,所述测板上连接有电子分析器,所述支柱从网格层底部穿入,贯穿到异形层上平面上部,所述测试箱四个对角处分别设有定位夹具。通过上述方式,本发明所述的ICT测试治具,具有成本低廉、结构简单、制作和维护费用低、通用性能好,可适用于多种PCB板的测试,极大的降低了ICT测试治具的整体费用,降低企业的生产成本。
申请公布号 CN105676111A 申请公布日期 2016.06.15
申请号 CN201610053297.7 申请日期 2016.01.27
申请人 系新电子技术(苏州)有限公司 发明人 詹贤文
分类号 G01R31/28(2006.01)I 主分类号 G01R31/28(2006.01)I
代理机构 苏州广正知识产权代理有限公司 32234 代理人 孙德荣
主权项 一种ICT测试治具,其特征在于,包括测试箱、测板、治具层及支柱,所述测板设置在测试箱内侧上部,所述治具层包括异型层、中间层、承重层及网格层,所述中间层与异型层之间设有定位针,所述测板上连接有电子分析器,所述支柱从网格层底部穿入,贯穿到异形层上平面上部,所述测试箱四个对角处分别设有定位夹具。
地址 215000 江苏省苏州市高新区锦峰路158号15幢302室