发明名称 |
一种ICT测试治具 |
摘要 |
本发明公开了一种ICT测试治具,包括测试箱、测板、治具层及支柱,所述测板设置在测试箱内侧上部,所述治具层包括异型层、中间层、承重层及网格层,所述中间层与异型层之间设有定位针,所述测板上连接有电子分析器,所述支柱从网格层底部穿入,贯穿到异形层上平面上部,所述测试箱四个对角处分别设有定位夹具。通过上述方式,本发明所述的ICT测试治具,具有成本低廉、结构简单、制作和维护费用低、通用性能好,可适用于多种PCB板的测试,极大的降低了ICT测试治具的整体费用,降低企业的生产成本。 |
申请公布号 |
CN105676111A |
申请公布日期 |
2016.06.15 |
申请号 |
CN201610053297.7 |
申请日期 |
2016.01.27 |
申请人 |
系新电子技术(苏州)有限公司 |
发明人 |
詹贤文 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
苏州广正知识产权代理有限公司 32234 |
代理人 |
孙德荣 |
主权项 |
一种ICT测试治具,其特征在于,包括测试箱、测板、治具层及支柱,所述测板设置在测试箱内侧上部,所述治具层包括异型层、中间层、承重层及网格层,所述中间层与异型层之间设有定位针,所述测板上连接有电子分析器,所述支柱从网格层底部穿入,贯穿到异形层上平面上部,所述测试箱四个对角处分别设有定位夹具。 |
地址 |
215000 江苏省苏州市高新区锦峰路158号15幢302室 |