一种评估电路板应力寿命的方法

摘要

本发明公开一种评估电路板应力寿命的方法，包括如下步骤：a、利用应变测试机检测待测电路板在预定测试条件下的最大应变值，记作初始应变值；b、利用测试夹具对所述待测电路板反复施加设定次数的应力；c、重复步骤a的操作，并将所述待测电路板的最大应变值记作测试应变值；d、判断所述测试应变值相对于所述初始应变值的偏离量是否大于设定值，如果是，则判断所述待测电路板达到应力寿命；如果否，则返回步骤c。本发明的有益效果是：本发明提供的评估电路板应力寿命的方法可以提高所述评估电路板应力寿命的方法的准确性和精确性，从而保证所述电路板的应力测试的有效性，进而使得实际生产过程中所述电路板的应力变形在可接受的范围内。

主权项

一种评估电路板应力寿命的方法，其特征在于：包括如下步骤：a、利用应变测试机检测待测电路板在预定测试条件下的最大应变值，记作初始应变值；b、利用测试夹具对所述待测电路板反复施加设定次数的应力；c、重复步骤a的操作，并将所述待测电路板的最大应变值记作测试应变值；d、判断所述测试应变值相对于所述初始应变值的偏离量是否大于设定值，如果是，则判断所述待测电路板达到应力寿命；如果否，则返回步骤c。