发明名称 |
具有晶体管单元和热电阻元件的半导体器件 |
摘要 |
本发明涉及具有晶体管单元和热电阻元件的半导体器件。半导体器件(500)包含被电耦合到晶体管单元(TC)的源极区(110)的第一负载端子(L1)。栅极端子(G)被电耦合到栅极电极(155),所述栅极电极(155)被电容地耦合到晶体管单元(TC)的本体区(115)。源极和本体区(110、115)被形成在半导体部分(100)中。热电阻元件(400)被热连接到半导体部分(100)并且被电耦合在栅极端子(G)与第一负载端子(L1)之间。在为半导体器件规定的最大操作温度(TJMax)之上,热电阻元件(400)的电阻在至多50开氏温度的临界温度跨度之内降低至少两个数量级。 |
申请公布号 |
CN105679745A |
申请公布日期 |
2016.06.15 |
申请号 |
CN201510878201.6 |
申请日期 |
2015.12.04 |
申请人 |
英飞凌科技股份有限公司 |
发明人 |
C.耶格;J.G.拉文;J.马勒;D.佩多内;A.普吕克尔;H-J.舒尔策;A.施瓦格曼;P.施瓦茨 |
分类号 |
H01L23/58(2006.01)I;H01L23/62(2006.01)I |
主分类号 |
H01L23/58(2006.01)I |
代理机构 |
中国专利代理(香港)有限公司 72001 |
代理人 |
申屠伟进;张涛 |
主权项 |
一种半导体器件,包括:第一负载端子(L1),被电耦合到晶体管单元(TC)的源极区(110);栅极端子(G),被电耦合到栅极电极(155),所述栅极电极(155)被电容地耦合到晶体管单元(TC)的本体区(115),其中源极和本体区(110、115)被形成在半导体部分(100)中;以及热电阻元件(400),被热连接到半导体部分(100)并且被电耦合在栅极端子(G)与第一负载端子(L1)之间,其中在为半导体器件规定的最大操作温度(TJMax)之上,热电阻元件(400)的电阻在至多50开氏温度的临界温度跨度之内降低至少两个数量级。 |
地址 |
德国瑙伊比贝尔格市坎芘昂1-12号 |