基于动态光弹性系统的应力测量方法

摘要

本发明涉及一种基于动态光弹性系统的应力测量方法，在一个实施例中，包括：进行暗场成像，并获得应力测点处的第一光强值；进行明场成像，并获得应力测点处的第二光强值；进行暗场补偿场成像，并获得应力测点处的第三光强值；基于所述第一光强值、第二光强值和第三光强值，获得应力引起的双折射的相位差；基于所述相位差，求得应力测点处的各应力值。本发明通过激光测振仪验证了该方法测量的结果的准确性，这种测量方法是一种新的旋转偏振器件法，具有光学系统简便、操作简单、结果准确等特点。该方法是一种全新的测量透明固体内部应力的方法，亦可推广到小应力的测量。

主权项

一种基于动态光弹性系统的应力测量方法，其特征在于，所述方法包括：进行暗场成像，并获得应力测点处的第一光强值；进行明场成像，并获得应力测点处的第二光强值；进行暗场补偿场成像，并获得应力测点处的第三光强值；基于所述第一光强值、第二光强值和第三光强值，获得应力引起的双折射的相位差；基于所述相位差，求得应力测点处的各应力值。