发明名称 METHODS OF FORMING SEMICONDUCTOR DEVICES INCLUDING EPITAXIAL LAYERS AND RELATED STRUCTURES
摘要 반도체 디바이스를 형성하는 방법은, 제1 전도율 타입의 단자 영역을 상기 제1 전도율 타입의 반도체층 내에 형성하는 단계를 포함할 수 있다. 제2 전도율 타입의 웰 영역이 상기 반도체층 내에 형성될 수 있고, 웰 영역은 적어도 반도체층 내의 단자 영역의 부분들에 인접하고, 웰 영역의 반도체층 내로의 깊이는 단자 영역의 반도체층 내로의 깊이보다 클 수 있고, 제1 및 제2 전도율 타입들은 상이할 수 있다. 에피택셜 반도체층이 반도체층 상에 형성될 수 있고, 제1 전도율 타입의 단자 접촉 영역이 에피택셜 반도체층에 형성될 수 있고, 단자 접촉 영역은 단자 영역과의 전기적 접촉을 제공한다. 또한, 옴 접촉이 단자 접촉 영역 상에 형성될 수 있다. 관련 구조들이 또한 논의된다.
申请公布号 KR101630899(B1) 申请公布日期 2016.06.15
申请号 KR20117024322 申请日期 2010.01.05
申请人 크리, 인코포레이티드 发明人 헐, 브렛 아담;장, 칭춘
分类号 H01L21/336;H01L29/78 主分类号 H01L21/336
代理机构 代理人
主权项
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