| 发明名称 | 用于扫描显微成像样本的方法和装置 | ||
| 摘要 | 一种用于扫描显微成像样本(28)的方法和装置。采取下述措施，在相继的扫描时间间隔中通过扫描光束(14)扫描多个样本点，在相关扫描时间间隔内，反复感测相应扫描样本点发射的辐射强度，依据相应扫描样本点上感测的强度，确定出强度平均值，作为平均值图像点信号，并将该平均值图像点信号组合成平均值光栅图像信号。进一步采取措施，以依据相应扫描样本点上感测的强度，另外确定出强度方差值，作为方差图像点信号，并将该方差图像点信号组合成方差光栅图像信号。 | ||
| 申请公布号 | CN102621111B | 申请公布日期 | 2016.06.15 |
| 申请号 | CN201210006360.3 | 申请日期 | 2012.01.10 |
| 申请人 | 徕卡显微系统复合显微镜有限公司 | 发明人 | H·比尔克;B·威兹高斯盖;H·尼森 |
| 分类号 | G02B21/00(2006.01)I | 主分类号 | G02B21/00(2006.01)I |
| 代理机构 | 北京泛华伟业知识产权代理有限公司 11280 | 代理人 | 王勇 |
| 主权项 | 一种用于扫描显微成像样本(28)的方法，包括下述步骤：在相继的扫描时间间隔中通过扫描光束(14)扫描多个样本点，在相关扫描时间间隔内，反复感测相应扫描样本点发射的辐射强度，依据相应扫描样本点上感测的强度，确定出强度平均值，作为平均值图像点信号，并且将该平均值图像点信号组合成平均值光栅图像信号，其中，依据相应扫描样本点上感测的强度，另外确定出强度方差值，作为方差图像点信号，并且将该方差图像点信号组合成方差光栅图像信号。 | ||
| 地址 | 德国韦茨拉尔 | ||