发明名称 |
检测单元、阵列基板、液晶显示装置以及检测方法 |
摘要 |
本发明提出一种新的技术方案,包括一种用以进行LCD点灯检测的检测单元、一种包含该检测单元的阵列基板、一种包含该阵列基板液晶显示装置以及一种用以进行LCD点灯检测的检测方法,对原有RGB液晶显示器生产工艺进行简单的改进,减少短路线的数量,只需改动一张Array光罩,即可使RGBW液晶显示器半成品实现纯色及混色的点灯检测,有效降低生产成本。 |
申请公布号 |
CN105676495A |
申请公布日期 |
2016.06.15 |
申请号 |
CN201610230053.1 |
申请日期 |
2016.04.14 |
申请人 |
深圳市华星光电技术有限公司 |
发明人 |
刘司洋;张天豪 |
分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
主分类号 |
G02F1/13(2006.01)I |
代理机构 |
深圳翼盛智成知识产权事务所(普通合伙) 44300 |
代理人 |
黄威 |
主权项 |
一种检测单元,其特征在于,包括:一短路线组,包括一第一短路线;一第二短路线;以及一第三短路线;至少一引线组,包括一R像素引线,连接至所述第一短路线;一G像素引线,连接至所述第二短路线;一B像素引线,连接至所述第三短路线;以及一W像素引线,连接至所述第二短路线;以及至少一信号线组,每一信号线组连接至一引线组,所述信号线组包括:一R像素信号线,连接至所述R像素引线;一G像素信号线,连接至所述G像素引线;一B像素信号线,连接至所述B像素引线;以及一W像素信号线,连接至所述W像素引线。 |
地址 |
518132 广东省深圳市光明新区塘明大道9—2号 |