一种用于扁平引脚芯片的测试装置

摘要

本发明公开了一种用于扁平引脚芯片的测试装置，包括测试座、绝缘弹性棒以及多排并列的若干弹性导电接触片；同排并列的所述弹性导电接触片穿套于绝缘弹性棒并夹设于所述测试座内；所述弹性导电接触片的底部形成与测试线路板线/面接触的下触面，顶部形成与被测芯片引脚线接触的上触面；所述上、下触面分别伸出测试座的上、下表面。本发明通过巧妙地设置弹性导电接触片穿套绝缘弹性棒并夹设于所述测试座内,并以线/面接触的方式对扁平引脚芯片进行测试，克服了现有技术中采用弹簧探针以点接触方式进行测试所产生的性能不可靠、易磨损、对测试环境影响大以及兼容性差等问题。

主权项

一种用于扁平引脚芯片的测试装置，其特征在于：包括测试座、绝缘弹性棒以及多排并列的若干弹性导电接触片；同排并列的所述弹性导电接触片穿套于绝缘弹性棒并夹设于所述测试座内；所述弹性导电接触片的底部形成与测试线路板线/面接触的下触面，顶部形成与被测芯片引脚线接触的上触面；所述上、下触面分别伸出测试座的上、下表面。