| 摘要 |
本開示は、有機発光ダイオード（「ＯＬＥＤ」）デバイスの堆積膜層の品質を査定するための技法を提供する。画像が捕捉され、分析される堆積層を識別するようにフィルタにかけられる。この層を表す画像データは、随意に、輝度（グレースケール）データに変換することができる。次いで、堆積層内の非連続性を強調するように、勾配関数が適用される。次いで、非連続性は、１つ以上の閾値と比較され、堆積層の品質を確認するために使用され、次いで、随意的な改善策が適用される。開示された技法は、次の製造ステップが適用される前に層間剥離等の潜在的な欠陥を迅速に識別するように適用することができる。随意的な実施形態では、欠陥が存在すると判定されるかどうかに応じて、改善策を講じることができる。 |
