发明名称 HETEROSTRUCTURE INCLUDING ANODIC ALUMINUM OXIDE LAYER
摘要 양극 알루미늄 산화물 층을 포함하는 반도체 구조체가 설명된다. 양극 알루미늄 산화물 층은 반도체 층과 재료의 다른 층 사이에 위치될 수 있다. 양극 알루미늄 산화물 층은 반도체 층의 인접한 표면으로 연장하는 복수의 공극들을 포함할 수 있다. 재료의 층은 복수의 공극들 중 적어도 일부를 관통할 수 있으며, 반도체 층과 직접 접촉할 수 있다. 예시적인 일 실시예에 있어, 재료의 층은 전도성 재료이며, 양극 알루미늄 산화물은 p-형 접촉부에 위치된다.
申请公布号 KR20160065178(A) 申请公布日期 2016.06.08
申请号 KR20167011496 申请日期 2014.10.02
申请人 SENSOR ELECTRONIC TECHNOLOGY, INC. 发明人 SHUR MICHAEL;SHATALOV MAXIM S.;DOBRINSKY ALEXANDER;GASKA REMIGIJUS
分类号 H01L33/02;H01L33/00;H01L33/12;H01L33/32;H01L33/38;H01L33/40;H01L33/42;H01L33/44 主分类号 H01L33/02
代理机构 代理人
主权项
地址