发明名称 |
HETEROSTRUCTURE INCLUDING ANODIC ALUMINUM OXIDE LAYER |
摘要 |
양극 알루미늄 산화물 층을 포함하는 반도체 구조체가 설명된다. 양극 알루미늄 산화물 층은 반도체 층과 재료의 다른 층 사이에 위치될 수 있다. 양극 알루미늄 산화물 층은 반도체 층의 인접한 표면으로 연장하는 복수의 공극들을 포함할 수 있다. 재료의 층은 복수의 공극들 중 적어도 일부를 관통할 수 있으며, 반도체 층과 직접 접촉할 수 있다. 예시적인 일 실시예에 있어, 재료의 층은 전도성 재료이며, 양극 알루미늄 산화물은 p-형 접촉부에 위치된다. |
申请公布号 |
KR20160065178(A) |
申请公布日期 |
2016.06.08 |
申请号 |
KR20167011496 |
申请日期 |
2014.10.02 |
申请人 |
SENSOR ELECTRONIC TECHNOLOGY, INC. |
发明人 |
SHUR MICHAEL;SHATALOV MAXIM S.;DOBRINSKY ALEXANDER;GASKA REMIGIJUS |
分类号 |
H01L33/02;H01L33/00;H01L33/12;H01L33/32;H01L33/38;H01L33/40;H01L33/42;H01L33/44 |
主分类号 |
H01L33/02 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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