发明名称 複製品判定回路,それを有する集積回路装置,及び複製品判定方法
摘要
申请公布号 JP5929587(B2) 申请公布日期 2016.06.08
申请号 JP20120164798 申请日期 2012.07.25
申请人 富士通セミコンダクター株式会社 发明人 寺田 洋介;稲岡 智彰;冨里 信彰;稲田 泰彦;森▲崎▼ 徹
分类号 G06K19/073;H01L21/822;H01L27/04 主分类号 G06K19/073
代理机构 代理人
主权项
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