发明名称 |
具有专用电子模块的测试器和并入或使用该测试器的系统和方法 |
摘要 |
在一个实施例中,自动化测试仪器(ATE)系统包括测试器,该测试器具有测试器电子模块、专用电子模块和测试器至待测设备(DUT)接口装配装置。测试器电子模块具有第一电子接口,该第一电子接口被配置为在测试器至DUT接口被耦接到测试器至DUT接口装配装置时电连接到测试器至DUT接口。专用电子模块具有第二电子接口和第三电子接口。第二和第三电子接口被配置为在测试器至DUT接口耦接到测试器至DUT接口装配装置时电连接到测试器至DUT接口。专用电子模块被配置为经由第二电子接口与测试器电子模块通信,并经由第三电子接口与至少一个DUT通信。 |
申请公布号 |
CN103221833B |
申请公布日期 |
2016.06.08 |
申请号 |
CN201080069841.8 |
申请日期 |
2010.10.29 |
申请人 |
爱德万测试公司 |
发明人 |
爱德马度·德拉帕恩特;肯·汉·徳希·莱 |
分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
主分类号 |
G01R31/28(2006.01)I |
代理机构 |
北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 |
代理人 |
李晓冬 |
主权项 |
一种自动化测试仪器ATE系统,包括:测试器,该测试器具有:i)多个电子模块装配装置;ii)装配到所述电子模块装配装置之一的测试器电子模块;和iii)装配到所述电子模块装配装置之一的专用电子模块,该专用电子模块包括BOST电路功能;可拆卸的测试器至待测设备DUT接口,该测试器至DUT接口可拆卸地电可连接到所述测试器,所述测试器至DUT接口具有DUT接口,其中,所述DUT接口可拆卸地电可连接到DUT;介于所述测试器电子模块和所述专用电子模块之间的ATE信号路径,所述ATE信号路径部分地由所述可拆卸的测试器至DUT接口限定;以及介于所述专用电子模块与所述DUT接口之间的DUT信号路径,所述DUT信号路径部分地由所述可拆卸的测试器至DUT接口限定;其中,将所述可拆卸的测试器至DUT接口从所述测试器拆卸使得所述ATE信号路径和所述DUT信号路径两者都断开。 |
地址 |
日本东京都 |