发明名称 半导体整流元件的封装结构及封装方法
摘要 本发明揭示了一种半导体整流元件的封装结构及封装方法,所述封装结构包括:芯片单元,包括若干用于进行整流的整流芯片;导体单元,包括位于芯片单元下方且与芯片单元电性连接的第一线路层、位于芯片单元上方且与芯片单元电性连接的第二线路层、以及电性连接第一线路层和第二线路层的导电柱;绝缘单元,包括包覆第一线路层的第一绝缘层、包覆第二线路层的第二绝缘层、以及填充于第一绝缘层和第二绝缘层之间未被芯片单元和导体单元占据的第三绝缘层。本发明使用线路层替代传统封装结构中的导线架,封装结构可靠性高、成本低,且封装方法简单,易于生产制造;封装结构实现了器件功能模块化,且能够实现封装结构的微型化。
申请公布号 CN105655262A 申请公布日期 2016.06.08
申请号 CN201610215020.X 申请日期 2016.04.07
申请人 禾邦电子(中国)有限公司 发明人 马抗震;哈鸣;刘欣伦;谷春垒
分类号 H01L21/56(2006.01)I;H01L23/31(2006.01)I;H01L23/498(2006.01)I 主分类号 H01L21/56(2006.01)I
代理机构 苏州威世朋知识产权代理事务所(普通合伙) 32235 代理人 杨林洁
主权项 一种半导体整流元件的封装结构,其特征在于,所述封装结构包括:芯片单元,包括若干用于进行整流的整流芯片;导体单元,包括位于芯片单元下方且与芯片单元电性连接的第一线路层、位于芯片单元上方且与芯片单元电性连接的第二线路层、以及电性连接第一线路层和第二线路层的导电柱;绝缘单元,包括包覆第一线路层的第一绝缘层、包覆第二线路层的第二绝缘层、以及填充于第一绝缘层和第二绝缘层之间未被芯片单元和导体单元占据的第三绝缘层。
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