一种半导体测试装置

摘要

本实用新型涉及测试装置领域内的一种半导体测试装置，包括安装在测试座上的第一测试片与第二测试片，第一测试片包括一对对称设置第一安装部两端的第一夹持部，第一安装部上开设有第一安装孔与第一定位孔，第二测试片包括一对对称设置在第二安装部两端的第二夹持部，第二安装部上设有第二安装孔与第二定位孔，第一测试片设置有四片，第二测试片设置有两片，其中第一测试片与第二测试片分别组成第一夹持脚、第二夹持脚和第三夹持脚，当第一测试片与第二测试片一侧夹持部的导电性损坏后，可将其翻转后重复使用，从而节省了加工材料，降低了加工成本，同时其结构简单，易于加工，且使用安全可靠，本实用新型可用于半导体电性能测试中。

主权项

一种半导体测试装置，包括安装在测试座上的第一测试片与第二测试片，其特征在于：所述第一测试片包括一对对称加工在第一安装部两端的第一夹持部，第一安装部上开设有第一安装孔与第一定位孔，所述第二测试片包括一对对称加工在第二安装部两端的第二夹持部，第二安装部上设有第二安装孔与第二定位孔，所述第一测试片设置有四片，第二测试片设置有两片，其中两个第一测试片组成第一夹持脚，一个第一测试片和一个第二测试片组成第二夹持脚，一个第一测试片和一个第二测试片组成第三夹持脚。