发明名称 半導体装置及びその試験方法
摘要 Disclosed herein is a device that includes an internal circuit, a first terminal supplied with a first voltage, a first power-supply line coupled between the first terminal and the internal circuit, a potential monitoring terminal, and a first switch coupled between the internal power-supply line and the potential monitoring terminal.
申请公布号 JP5932324(B2) 申请公布日期 2016.06.08
申请号 JP20110279216 申请日期 2011.12.21
申请人 ピーエスフォー ルクスコ エスエイアールエルPS4 Luxco S.a.r.l. 发明人 畠山 淳;石川 透
分类号 G11C29/12;G01R31/28;G11C5/00 主分类号 G11C29/12
代理机构 代理人
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