一种电致发光检测方法

摘要

本发明涉及一种电致发光检测方法，(1)给出稳定的电压和电流，分别施加在待检测的组件和串联电阻与并联电阻上，利用监控设备监控各自的数值，稳定后用红外拍照设备，进行第一次红外图片的拍摄；(2)利用标准太阳的光强，照射在组件表面，同步监控扫描电流和电压随时间的变化，同步拍摄得到第二次红外照片；(3)当电流和电压变化回归到0附近时，进行第三次红外拍照，形成第三次图片；(4)累计三次以上的红外图片，按照像素进行灰阶转化，形成标准灰阶比对，同时根据电性能的变化对时间的导数，计算出待测组件的效率。与现有技术相比，本发明为晶硅组件和非晶硅组件的发展提供了高效的测试和监控技术。

主权项

一种电致发光检测方法，其特征在于，采用以下步骤：(1)给出稳定的电压和电流，分别施加在待检测的组件和串联电阻与并联电阻上，利用监控设备监控各自的数值，稳定后用红外拍照设备，进行第一次红外图片的拍摄；(2)同步时间，给一个标准太阳的光强，照射在组件表面，同步监控扫描电流和电压随时间的变化，同步拍摄得到第二次红外照片；(3)当电流和电压变化回归到0附近时，进行第三次红外拍照，形成第三次图片；(4)累计三次以上的红外图片，按照像素进行灰阶转化，形成标准灰阶比对，同时根据电性能的变化对时间的导数，计算出待测组件的效率。