ERROR SCANNING IN FLASH MEMORY

摘要

다양한 실시예들은 스캐닝에 대한 조건이 충족되는 경우에 메모리 장치의 적어도 일부를 스캐닝하는 방법, 장치, 및 시스템을 포함한다. 조건은 판독 동작의 횟수, 기입 동작의 횟수, 시간, 등 중 하나 이상에 의존할 수 있다. 추가의 방법, 장치, 및 시스템을 포함하는 다른 실시예들이 개시된다.