| 摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein Lichtmikroskop zum Untersuchen einer mikroskopischen Probe mit einer Lichtquelle, einer Scanspiegelvorrichtung zum Leiten von Beleuchtungslicht der Lichtquelle in Richtung eines Probenorts und elektronischen Steuermitteln, welche zum Verstellen der Scanspiegelvorrichtung eingerichtet sind, um eine Probe mit Beleuchtungslicht abzurastern. Das Lichtmikroskop ist erfindungsgemäß dadurch gekennzeichnet, dass Strahlengangauswahlmittel zwischen der Lichtquelle und der Scanspiegelvorrichtung vorhanden sind. Mit den Strahlengangauswahlmitteln sind akustooptisch oder elektrooptisch schaltbar verschiedene Strahlengänge nacheinander aktivierbar, wobei in den verschiedenen Strahlengängen Beleuchtungslicht in unterschiedlichen Winkeln auf die Scanspiegelvorrichtung leitbar ist, um verschiedene Probenbereiche zu beleuchten. Die elektronischen Steuermittel sind dazu eingerichtet, mit der Scanspiegelvorrichtung eine Probe mit Beleuchtungslicht abzurastern und währenddessen mit den Strahlengangauswahlmitteln verschiedene Strahlengänge nacheinander zu aktivieren. |
