一种检测隔垫物的方法、系统及装置

摘要

本发明公开了一种检测隔垫物的方法、系统及装置，其中的方法包括：多个子光源在不相重叠的时序发射波长不同、光强相同的红外线，红外线照射在隔垫物上；分时采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的红外图像；对利用不同波长采集到的红外图像中每个像素点的光强进行累加计算，得到整个图像的总光强；对不同波长下计算得到的总光强进行比较，并根据总光强最大值对应的红外图像计算隔垫物之间的距离。利用红外测距原理对隔垫物进行红外线扫描，将不同位置隔垫物反射的红外线进行拼图形成全彩膜基板的红外图像。该方法有利于对隔垫物盒厚进行测量，根据隔垫物测量的数据对液晶滴注机进行调整，可以更好地控制盒厚，提高液晶屏幕显示效果。

主权项

一种检测隔垫物的方法，其特征在于，包括：多个子光源在不相重叠的时序发射波长不同、光强相同的红外线，所述红外线照射在隔垫物上；分时采集经过隔垫物反射回来的不同波长的红外线所形成的红外图像；对利用不同波长采集到的红外图像中每个像素点的光强进行累加计算，得到整个图像的总光强；对不同波长下计算得到的总光强进行比较，并根据总光强最大值对应的红外图像计算隔垫物之间的距离；其中，计算隔垫物之间的距离的过程具体包括：首先计算光矢量的表达式为E＝Acos[2πγ(t‑x/v)+φ]，其中A表示振幅，γ表示光频率，v表示光在介质中的速度，φ表示初期相位，t表示时间，x表示t时间段内的距离；其次光矢量的横轴分量Ex＝Acos[2πγ(t‑x/v_x)+φ]，纵轴分量Ey＝Acos[2πγ(t‑x/v_y)+φ]，由于横向距离v_x和纵向距离v_y得到位相差Δ发生在光通过厚度为d的样品的场合下，其中位相差Δ＝2π*(N_x‑N_y)*d/λ，其中N_x‑N_y为Δn，即Δ＝2π*Δn*d/λ，Δn*d就被称为Retardation位相差，也就是隔垫物之间的距离。