| 发明名称 | 一种测量Seebeck系数的装置及其方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了一种测量Seebeck系数的装置及其方法，其中该装置包括主/副加热器、第一绝缘导热体、第二绝缘导热体、第一主/副探针、第二主/副探针、第一主/副热电偶、第二主/副热电偶，其中，第一绝缘导热体和第二绝缘导热体均用于放置待测量样品；第一主/副探针和第二主/副探针用于测量待测量样品的电位；第一主/副热电偶和第二主/副热电偶用于测量待测量样品的温度。本发明中进行测量的样品其形貌可灵活多样，并且该装置可以测试在不同温度条件下的材料塞贝克系数，装置结构简单，由于是采用基于四个探针求得多组塞贝克系数求平均的测试方法，测量得到的塞贝克系数测量准确性高。 | ||
| 申请公布号 | CN105628732A | 申请公布日期 | 2016.06.01 |
| 申请号 | CN201510995132.7 | 申请日期 | 2015.12.23 |
| 申请人 | 华中科技大学 | 发明人 | 杨君友;何煦;罗裕波;张旦;周志伟;瞿秋亮;姜庆辉;任洋洋 |
| 分类号 | G01N25/20(2006.01)I;G01R19/00(2006.01)I;G01K7/02(2006.01)I | 主分类号 | G01N25/20(2006.01)I |
| 代理机构 | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人 | 曹葆青 |
| 主权项 | 一种测量Seebeck系数的装置，其特征在于，包括主加热器(1)、副加热器(5)、第一绝缘导热体(3)、第二绝缘导热体(4)、第一主探针(11)、第一副探针(12)、第二主探针(13)、第二副探针(14)、第一主热电偶(7)、第一副热电偶(8)、第二主热电偶(9)和第二副热电偶(10)；其中，所述第一绝缘导热体(3)和所述第二绝缘导热体(4)均位于所述主加热器(1)上，呈前后位置关系放置，并且所述第一绝缘导热体(3)和所述第二绝缘导热体(4)两者不直接接触；所述第一绝缘导热体(3)和所述第二绝缘导热体(4)均用于放置待测量样品；该待测量样品的一端与所述第一绝缘导热体(3)接触，另一端与所述第二绝缘导热体(4)接触；所述副加热器(5)位于所述第一绝缘导热体(3)一侧，用于对所述第一绝缘导热体(3)加热；所述主加热器(1)用于同时对所述第一绝缘导热体(3)和所述第二绝缘导热体(4)加热；所述第一主探针(11)和所述第一副探针(12)分别用于测量所述待测量样品与所述第一绝缘导热体(3)相接触部分左右两端的电位，所述第二主探针(13)和所述第二副探针(14)分别用于测量所述待测量样品与所述第二绝缘导热体(4)相接触部分左右两端的电位；所述第一主热电偶(7)和所述第一副热电偶(8)分别位于所述第一绝缘导热体(3)下方的左部和右部，分别用于测量所述待测量样品与所述第一绝缘导热体(3)相接触部分左右两端的温度；所述第二主热电偶(9)和所述第二副热电偶(10)分别位于所述第二绝缘导热体(4)下方的左部和右部，分别用于测量所述待测量样品与所述第二绝缘导热体(4)相接触部分左右两端的温度。 | ||
| 地址 | 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 | ||