发明名称 | 一种标准单元优化方法及系统 | ||
摘要 | 本发明公开了一种标准单元优化方法及系统,该方法包括:获取标准单元的当前电路和与当前电路相对应的当前版图;提取当前版图的寄生参数;在当前电路中增加寄生参数,生成带寄生电路;对带寄生电路进行性能测试,得到带寄生电路的性能测试值;如果性能测试值不满足性能指标的要求,则对带寄生电路的器件参数值进行调整得到已调整电路,直至对已调整电路进行性能测试得到的性能测试值与性能指标间的相对误差在预设误差范围内为止,并将最终得到的已调整电路作为参照电路;根据参照电路,完成当前电路的更新;根据更新后的当前电路,完成当前版图的更新。本发明方法及系统可以有效提高标准单元电路和版图的设计效率。 | ||
申请公布号 | CN105631075A | 申请公布日期 | 2016.06.01 |
申请号 | CN201410613739.X | 申请日期 | 2014.11.04 |
申请人 | 中国科学院微电子研究所 | 发明人 | 吴玉平;陈岚;方山;张学连 |
分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 主分类号 | G06F17/50(2006.01)I |
代理机构 | 北京维澳专利代理有限公司 11252 | 代理人 | 党丽;胡湘根 |
主权项 | 一种标准单元优化方法,其特征在于,包括:获取标准单元的当前电路和与所述当前电路相对应的当前版图;提取所述当前版图的寄生参数;在所述当前电路中增加所述寄生参数,生成带寄生电路;对所述带寄生电路进行性能测试,得到带寄生电路的性能测试值;如果所述性能测试值不满足性能指标的要求,则:对带寄生电路的器件参数值进行调整得到已调整电路,直至对已调整电路进行性能测试得到的性能测试值与所述性能指标间的相对误差在预设误差范围内为止,并将最终得到的已调整电路作为参照电路;根据所述参照电路,调整所述当前电路中的器件参数值,完成当前电路的更新;将所述当前版图调整为与更新后的当前电路相对应的版图,完成当前版图的更新。 | ||
地址 | 100029 北京市朝阳区北土城西路3号 |