发明名称 顶针限位机构和测试设备
摘要 本实用新型提供一种顶针限位机构和测试设备,属于显示技术领域,其可解决现有的顶针限位机构对基板限位时,由于反复摩擦产生大量小颗粒,从而影响产品良率和损坏设备的问题。本实用新型的顶针限位机构包括限位顶针、支撑部、驱动部,所述支撑部设置于所述驱动部上方,所述限位顶针设置于所述支撑部上方,所述限位顶针以及所述支撑部随所述驱动部移动,还包括真空吸收装置,所述限位顶针开设有吸收孔,所述支撑部与所述吸收孔对应的区域开设有连接孔,所述吸收孔通过所述连接孔与所述真空吸收装置连通。本实用新型的顶针限位机构能够有效吸收、排出摩擦产生的小颗粒,保证产品良率,避免设备损坏。
申请公布号 CN205280104U 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201620005904.8 申请日期 2016.01.04
申请人 成都京东方光电科技有限公司;京东方科技集团股份有限公司 发明人 袁洪光;胡岩;张宇;赵吾阳;魏悦;王振;姜伟;任志明
分类号 G01D11/00(2006.01)I 主分类号 G01D11/00(2006.01)I
代理机构 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人 罗瑞芝;陈源
主权项 一种顶针限位机构,包括限位顶针、支撑部、驱动部,所述支撑部设置于所述驱动部上方,所述限位顶针设置于所述支撑部上方,所述限位顶针以及所述支撑部随所述驱动部移动,其特征在于,还包括真空吸收装置,所述限位顶针开设有吸收孔,所述支撑部开设有连接孔,所述吸收孔通过所述连接孔与所述真空吸收装置连通。
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