发明名称 微影过程中临界尺寸的测试标记
摘要 本发明涉及一种微影过程中临界尺寸的测试标记,包括依次连接并形成一矩形方框的第一、第二、第三、第四标记棒,用于测试独立线临界尺寸;相邻两个标记棒形成的直角区域用于测试图案的直角圆形化情况;方框内包括第一、第二、第三组测试棒,第一、第二、第三组测试棒与第一标记棒平行,第二、第三组测试棒包括第一部分和第二部分;第一组测试棒与第二、第三组测试棒的第一部分形成密集线测试棒;第二、第三组测试棒的第二部分形成半密集线测试棒;第三组测试棒的末端邻近所述第二标记棒,用于测试图案的线端或者间隙端。本发明的测试标记包含的图案信息多,结构简单,占用面积小,成本低。
申请公布号 CN102280438B 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201110218125.8 申请日期 2011.08.01
申请人 上海华虹宏力半导体制造有限公司 发明人 岳力挽;赵新民;周孟兴;鲍晔;王彩虹
分类号 H01L23/544(2006.01)I;G03F7/00(2006.01)I 主分类号 H01L23/544(2006.01)I
代理机构 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人 郑玮
主权项 一种微影过程中临界尺寸的测试标记,其特征在于,包括:第一标记棒、第二标记棒、第三标记棒、第四标记棒,所述第一、第二、第三、第四标记棒依次连接形成一矩形方框,所述第一、第二、第三、第四标记棒用于测试独立线临界尺寸;形成于所述方框内且依次设置的第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七测试棒,所述第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七测试棒包括相互垂直的第一边和第二边,所述第一、第二、第三、第四、第五、第六、第七测试棒的第一边与所述第一标记棒平行,所述第二、第四、第六测试棒的第一边包括第一部分和第二部分,所述第一、第三、第五、第七测试棒的第一边与所述第二、第四、第六测试棒的第一边的第一部分形成密集线测试棒,用于测试密集线或者密集间隙的临界尺寸,所述第二、第四、第六测试棒的第一边的第二部分形成半密集线测试棒,用于测试半密集线或者半密集间隙的临界尺寸,所述第四测试棒的第一边的末端邻近所述第二标记棒,用于测试图案的线端或者间隙端。
地址 201203 上海市张江高科技园区祖冲之路1399号