发明名称 一种针对颗粒厚度的超分辨率测量方法
摘要 为了提高扁平状颗粒厚度的测量精度,本发明将超分辨率技术引入颗粒厚度测量中。在小波图像增强的基础上,采用基于稀疏表示的超分辨率方法重建单幅图像。利用采集的低分辨率图像获取低分辨率图像块与字典训练集,并采用正交匹配跟踪算法求出稀疏表示系数。利用K-SVD方法获得高、低分辨率的超完备字典,再通过高分辨率的超完备字典与稀疏表示系数的乘积求得高分辨率图像块,重构出高分辨率图像。进而结合颗粒图像分割与最小外接矩形方法实现厚度测量。该方法能够去除采集图像中的噪声、毛刺等污染,能丰富图像内容并改善图像质量,提高了颗粒厚度的测量精度。
申请公布号 CN105631839A 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201410469327.3 申请日期 2014.09.08
申请人 西南科技大学 发明人 李强;吴亚婷;江虹;黄玉清
分类号 G06T7/00(2006.01)I 主分类号 G06T7/00(2006.01)I
代理机构 代理人
主权项 一种针对颗粒厚度的超分辨率测量方法,其特征在于,融合采用了离散小波变换方法、基于稀疏表示的超分辨率重建方法、自适应阈值方法、分水岭分割方法、基于RAC的两步标定法、Freeman链码方法、最小外接矩形方法。离散小波变换的方法对图像进行增强。基于稀疏表示的超分辨重建方法获取高分辨率图像。自适应阈值方法实现图像二值化。分水岭分割方法分割图像中粘连颗粒。基于RAC的两步标定法实现摄像机的标定。Freeman链码提取颗粒轮廓。最小外接矩形的高度来表征颗粒的厚度。
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