发明名称 |
探针和接触检查装置 |
摘要 |
[解决的问题]提供探针与接触检查装置,探针能够使探针与电路板之间的电连接稳定化,接触检查装置装配有该探针。[解决方案]一种探针,其具有第一端和第二端,所述第一端与测试对象接触和分离,所述第二端与电路板接触,以对所述测试对象执行检查,其中所述第二端设置有转动被限制部,所述转动被限制部限制所述探针绕着所述探针的轴线方向的转动。所述第一端与所述第二端之间设置有可伸缩部,所述可伸缩部能够沿所述探针的轴线方向自由伸缩并具有至少一个螺旋槽。所述第二端由管状构件形成。而且,所述第一端与所述第二端之间设置有至少两个所述可伸缩部,并且所述可伸缩部之间形成有中间部。 |
申请公布号 |
CN105628987A |
申请公布日期 |
2016.06.01 |
申请号 |
CN201510836524.9 |
申请日期 |
2015.11.26 |
申请人 |
日本麦可罗尼克斯股份有限公司 |
发明人 |
安藤博康;那须美佳 |
分类号 |
G01R1/073(2006.01)I |
主分类号 |
G01R1/073(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇;张会华 |
主权项 |
一种探针,其具有第一端和第二端,所述第一端与测试对象接触和分离,所述第二端与电路板接触,以对所述测试对象执行检查,其中,所述第二端设置有转动被限制部,所述转动被限制部限制所述探针绕着所述探针的轴线方向的转动。 |
地址 |
日本东京都 |