发明名称 |
一种硅基GaAs单晶薄膜及其制备方法 |
摘要 |
本发明提供了一种硅基GaAs单晶薄膜及其制备方法,方法首先对硅衬底进行脱氧及退火,然后分为四个温度在硅衬底上依次形成GaAs低温成核层、GaAs中温缓冲层、GaAs中温缓冲层及高温GaAs外延层,最后降温得到硅基GaAs薄膜。本发明制得的硅基GaAs薄膜具有表面光亮、起伏小及缺陷少的优点。 |
申请公布号 |
CN105624792A |
申请公布日期 |
2016.06.01 |
申请号 |
CN201610173297.0 |
申请日期 |
2016.03.24 |
申请人 |
中国科学院半导体研究所 |
发明人 |
刘广政;杨冠卿;于天;徐波 |
分类号 |
C30B29/42(2006.01)I;C30B29/64(2006.01)I;C30B25/18(2006.01)I |
主分类号 |
C30B29/42(2006.01)I |
代理机构 |
中科专利商标代理有限责任公司 11021 |
代理人 |
宋焰琴 |
主权项 |
一种硅基GaAs单晶薄膜的制备方法,其特征在于,包括:S1,对一硅衬底进行脱氧处理及退火处理;S2,降低所述硅衬底的温度至第一温度,然后,在所述硅衬底表面生长一层GaAs,以形成第一GaAs层;S3,升高所述硅衬底的温度至第二温度,然后,在所述第一GaAs层上生长一层GaAs,以形成第二GaAs层;S4,升高所述硅衬底的温度至第三温度,然后,在所述第二GaAs层上生长一层GaAs,以形成第三GaAs层;S5,升高所述硅衬底的温度至第四温度,然后,在所述第三GaAs层上生长一层GaAs,以形成第四GaAs层;S6,降低所述硅衬底的温度至常温,得到硅基GaAs单晶薄膜。 |
地址 |
100083 北京市海淀区清华东路甲35号 |