发明名称 一种硅基GaAs单晶薄膜及其制备方法
摘要 本发明提供了一种硅基GaAs单晶薄膜及其制备方法,方法首先对硅衬底进行脱氧及退火,然后分为四个温度在硅衬底上依次形成GaAs低温成核层、GaAs中温缓冲层、GaAs中温缓冲层及高温GaAs外延层,最后降温得到硅基GaAs薄膜。本发明制得的硅基GaAs薄膜具有表面光亮、起伏小及缺陷少的优点。
申请公布号 CN105624792A 申请公布日期 2016.06.01
申请号 CN201610173297.0 申请日期 2016.03.24
申请人 中国科学院半导体研究所 发明人 刘广政;杨冠卿;于天;徐波
分类号 C30B29/42(2006.01)I;C30B29/64(2006.01)I;C30B25/18(2006.01)I 主分类号 C30B29/42(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人 宋焰琴
主权项 一种硅基GaAs单晶薄膜的制备方法,其特征在于,包括:S1,对一硅衬底进行脱氧处理及退火处理;S2,降低所述硅衬底的温度至第一温度,然后,在所述硅衬底表面生长一层GaAs,以形成第一GaAs层;S3,升高所述硅衬底的温度至第二温度,然后,在所述第一GaAs层上生长一层GaAs,以形成第二GaAs层;S4,升高所述硅衬底的温度至第三温度,然后,在所述第二GaAs层上生长一层GaAs,以形成第三GaAs层;S5,升高所述硅衬底的温度至第四温度,然后,在所述第三GaAs层上生长一层GaAs,以形成第四GaAs层;S6,降低所述硅衬底的温度至常温,得到硅基GaAs单晶薄膜。
地址 100083 北京市海淀区清华东路甲35号